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黑光輻照計(jì)紫光強(qiáng)度探測(cè)儀370到470納米
更新時(shí)間：2025-10-18
訪問量：2132
廠商性質(zhì)：代理商
生產(chǎn)地址：深圳
簡(jiǎn)要描述：
UVV420黑光輻照計(jì)紫光強(qiáng)度探測(cè)儀370到470納米黑光輻照計(jì)探測(cè)器的光譜：370nm 到470nm（峰值420nm,50%以上透過率波段395 nm到450 nm）。顯示： 3 3/4位液晶顯示屏，MAX大讀數(shù)3999。
UVV420黑光輻照計(jì)紫光強(qiáng)度探測(cè)儀370到470納米
黑光輻照計(jì)探測(cè)器的光譜：370nm 到470nm（峰值420nm,50%以上透過率波段395 nm到450 nm）。
顯示： 3 3/4位液晶顯示屏，MAX大讀數(shù)3999
測(cè)量范圍：0-400 mW/cm2，四檔位測(cè)量；400μW檔，4000μW檔,40mW檔，400mW檔（1000 μW/cm2 = 1 mW/cm2）
探測(cè)器波長(zhǎng)范圍：370nm – 470nm
探測(cè)器的光譜：峰值420nm，50%以上透過率波段395nm到450nm
準(zhǔn)確度：±(8%R+ 2dgt)（R：讀數(shù)），帶外區(qū)雜光小于0.1%
*在UVV光源下進(jìn)行校準(zhǔn)，并與標(biāo)準(zhǔn)UVV表進(jìn)行比較
*特別測(cè)試環(huán)境下的射頻場(chǎng)強(qiáng)度小于3伏/米，頻率低于30兆赫
探測(cè)器結(jié)構(gòu)：紫外增強(qiáng)型光電二極管和UVV波段過濾校正鏡
取樣率：2次/秒
過載顯示：顯示‘OL’
重量：320克(含電池)
操作溫濕度：0℃ to 40℃(32℉-104℉) 0～80%Rh
電源：直流9V 6F22型電池
耗電量：直流約2.7毫安
尺寸：表身 160x78x43mm ，探測(cè)器 165x50x32mm
黑光輻照計(jì)紫光強(qiáng)度探測(cè)儀370到470納米的各型號(hào)資料：
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