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UV-A型365nm和420納米雙探頭紫外輻照計(jì)
更新時(shí)間：2025-10-17
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廠商性質(zhì)：代理商
生產(chǎn)地址：北京
UV-A型365nm和420納米雙探頭紫外輻照計(jì)
紫外輻照計(jì)已取得中華人民共和國制造計(jì)量器具許可證和計(jì)量器具型式批準(zhǔn)證書。
紫外輻照計(jì)執(zhí)行企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)Q/HDSDY0003－2014。
UV-A型紫外輻照計(jì)采用SMT貼片技術(shù)，選用低功耗數(shù)字芯片，儀器外殼為流線型設(shè)計(jì)，探測器經(jīng)過嚴(yán)格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定，適用性強(qiáng)。適用于光化學(xué)、高分子材料老化、紫外光源、以及大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測量工作。
UV-A型365nm和420納米雙探頭紫外輻照計(jì)的特點(diǎn)：
光譜及角度特性經(jīng)嚴(yán)格校正
數(shù)字液晶顯示，帶背光
手動(dòng)/自動(dòng)量程切換
數(shù)字輸出接口（USB,冗余供電）
低電量提醒
自動(dòng)延時(shí)關(guān)機(jī)
有數(shù)字保持
輕觸按鍵操作，蜂鳴提示
的規(guī)格參數(shù)：
項(xiàng)目 | 參數(shù) |
波長范圍λ1，峰值波長λp | （320～400）nm，λP＝365nm |
波長范圍λ2，峰值波長λp | （375～475）nm，λP＝420nm |
輻照度測量范圍 | (0.1～199.9×103) μW/cm2 |
紫外帶外區(qū)雜光 | 0.02% |
相對示值誤差 | ±8％（相對于NIM標(biāo)準(zhǔn)） |
角度響應(yīng)特性 | ±5% （α≤10°） |
線性誤差 | ±1% |
換檔誤差 | ±1% |
短期不穩(wěn)定性 | ±1%（開機(jī)30min后） |
零值誤差 | 滿量程的±1% |
響應(yīng)時(shí)間 | <1秒 |
使用環(huán)境 | 溫度(0~40)℃；濕度＜85％RH |
尺寸和重量 | 160mm×78mm×43mm；0.2kg |
電源 | 6F22型9V積層電池（非充電電池） |
整機(jī)功耗 | ＜0.1VA |
序號(hào) | 配件名稱 | 件數(shù) |
1 | 讀數(shù)顯示單元 | 1 |
2 | 探頭 | 365和420各一個(gè) |
3 | 探頭蓋 | 2 |
4 | 數(shù)據(jù)線 | 1 |
5 | 說明書 | 1 |
6 | 合格證/保修單 | 1 |
7 | 9V積層電池 | 1 |
8 | 儀器包裝箱 | 1 |
